圆偏振发光（CPL）测的是手性分子被非偏振光激发后，左旋与右旋圆偏振发射的强度差。这个差值通常只有总荧光的千分之几，所以难点不在「测荧光」，而在「从强背景里分出极小的左右旋差」。CPL-300 的做法是：Ex / Em 各一套石英棱镜单色仪把杂散光压到 0.001% 以下，光弹性调制器（PEM）把圆偏振做成高频调制，再用锁相放大器在噪声里把差值提出来；180° 线性光学系统提供纯净的非偏振激发，从源头抑制荧光各向异性造成的伪信号。
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棱镜色散没有光栅的高次谐波问题，Ex 与 Em 各一套，激发光拖尾被压到 0.001% 以下。测 CPL 时激发光往往比发射强几个数量级，这一条决定了弱信号能否浮出来。
圆偏振被调制成高频信号，锁相只提取该频率的分量，1/f 噪声与漂移被大幅抑制；CPL 分辨率 0.00001 mdeg，能分出手性材料常见的 10⁻³–10⁻⁴ 量级不对称。
线性光学布局保证激发光无偏振，避免荧光各向异性（photoselection）伪造出「圆偏振」；对溶液、薄膜、压片都成立，这是 glum 数据能被审稿人接受的前提。
同一增益下同时输出 CPL（AC 分量）、荧光强度（DC）与 glum，两者逐点对应，不用两次测量再做归一，装样位移与光源漂移不再引入误差。
溶液比色皿、KBr 压片、PMMA 薄膜、单晶都可直接测；可扩展珀尔帖变温（20–50 ℃）与永磁体磁场，做磁圆偏振电致发光（MCP-OLED）。
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| 指标名称 | 参数值 |
|---|---|
| 型号 | JASCO CPL-300 圆偏光发光光谱仪 |
| 光源 | 150 W 无臭氧空冷 Xe 灯（可选 HgXe / LED / 激光器） |
| 检测器 | 侧窗型光电倍增管 PMT；可选 InGaAs 检测器 |
| 调制器 / 电子系统 | 光弹性调制器（PEM）+ 锁相放大器 |
| 单色仪 | 激发（Ex）与发射（Em）双棱镜单色仪 |
| 测量波长范围 | 250 – 850 nm；400 – 1600 nm（选配 InGaAs） |
| 波长精度 | ±0.2 nm（250–500）/ ±0.5 nm（500–800）/ ±1.5 nm（800–1600） |
| 波长重复性 | ±0.05 nm（250–500）/ ±0.1 nm（500–800）/ ±0.5 nm（800–1600） |
| 波长分辨率 | 0.025 nm |
| CPL 分辨率 | 0.00001 mdeg |
| 杂散光 | 0.001% 或更低 |
| 狭缝宽度 | 1 – 4000 µm（软件自动调节） |
| 数字积分时间（D.I.T.） | 0.1 ms – 30 s |
| 扫描速度 | 最高 10000 nm/min |
| 扫描模式 | 连续扫描 / 步进扫描 / 自动响应（D.I.T.）扫描 |
| 光学模式 | CD（AC = CPL）/ DC（DC = 荧光）/ HT（PMT 高压）/ AC/DC |
| 外部输入端口 | 2 通道（−1 ~ +1 V DC） |
| 汞灯 / 快门 | 内置汞灯校验；快门位于 Ex 与 Em 单色仪 |
| 样品形态 | 溶液、KBr 压片、PMMA 薄膜、单晶 |
| 扩展 | 珀尔帖变温 20 – 50 ℃；永磁体磁场（MCP-OLED） |
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普通荧光仪测的是总发光强度，CPL 要测左右旋之差，量级只有总强度的 10⁻³–10⁻⁴。要测出来必须同时满足三条：激发光非偏振、发射端杂散光极低、能对微小差做锁相提取。缺一条，测到的就是伪信号或噪声。
怎么选测 glum → 必须专用 CPL 仪器
标准 PMT 覆盖 250–850 nm，够绝大多数有机 CPL 材料与稀土配合物的可见发射；做 1–1.6 µm 的近红外 CPL（Yb³⁺、Er³⁺ 配合物、NIR 卤化物）才需要 InGaAs 选件。
怎么选可见区 → 标准 PMT；NIR 发射 → InGaAs
KBr 压片、PMMA 掺杂薄膜、单晶都可直接上标配支架；固态散射强，通常开大狭缝（如 3000 µm）并多次累加换信噪比。测前旋转样品、改变入射角，可以排查线双折射（LB）与线二色（LD）造成的伪 CPL。
怎么选固态强散射 → 大狭缝 + 多累加
01 可加工 CPL 材料与柔性 3D 显示
Processable circularly polarized luminescence material enables flexible stereoscopic 3D imaging
实验配置CPL 与 CD 分别在 JASCO CPL-300 与 J-1500 上测量；样品为可打印的 CPL 聚合物薄膜（CPL-PP），左右手性材料分别打印到同一像素单元的左右两半；反射与荧光谱分别用 UV-vis-NIR 分光光度计与荧光分光光度计；形貌用偏光显微镜。
为什么选择本型号？薄膜是固态、单层发光弱，左右旋差值只有荧光强度的千分之几——需要双棱镜发射单色仪把杂散光压到 0.001% 以下，否则激发光拖尾直接盖住 CPL 信号；AC/DC 同步输出让 glum 与荧光强度在同一次扫描里一一对应，不用两次测量再做归一。
适用型号：CPL-300（本型号）
02 超分子组装的手性放大
Double helical π-aggregate nanoarchitectonics for amplified circularly polarized luminescence
实验配置0.1 mm 光程石英比色皿，悬浮液直接滴样；CPL 用 CPL-300（部分样品用 CPL-200 对照）；测前翻转样品并改变入射角，排除线双折射（LB）造成的伪信号。
为什么选择本型号？悬浮液存在宏观各向异性，LB 会在普通装置上伪造出 CPL；180° 线性光学系统的纯净非偏振激发从源头抑制荧光各向异性伪信号，这是这里给出的 glum 能被审稿人接受的前提。
适用型号：CPL-300（本型号）
03 单发射全色 CPL 与白光照明
Helical-caging enables single-emitted large asymmetric full-color circularly polarized luminescence
实验配置CD 与 CPL 分别用 JASCO J-1500 与 CPL-300；绝对 PLQY 用积分球（365 nm 激发、石英比色皿）；PXRD 用粉末衍射仪（Cu Kα，20°–70°）；形貌用偏光显微镜。
为什么选择本型号？全色发光横跨 400–700 nm，发射单色仪要在整个可见区保持低杂散光——蓝端激发光一旦串到红端，红光区的 glum 就不可信；0.025 nm 波长分辨率也保证窄发射峰不被仪器函数展宽。
适用型号：CPL-300（本型号）
04 无铅金属卤化物 CPL
Stepwise amplification of circularly polarized luminescence in indium-based metal halides
实验配置CPL 用 JASCO CPL-300；CD 用圆二色光谱仪（100 nm/min、1 nm 数据间隔）；TGA（N₂ 100 mL/min）、FT-IR（KBr 压片）、飞秒瞬态吸收配套表征。
为什么选择本型号？这类无铅卤化物的 glum 在 10⁻³ 量级、发光峰又宽，信号很容易埋在基线起伏里；0.00001 mdeg 的 CPL 分辨率决定了能否把真实不对称性从噪声中分出来，而不是靠平滑把峰做出来。
适用型号：CPL-300（本型号）
05 稀土卤化物与磁场调控 CPL
Chiral europium halides with high-performance magnetic field tunable red circularly polarized luminescence
实验配置样品与 KBr 粉混合压片；扫描速度 500 nm/min、数据间隔 0.5 nm、D.I.T 1 s；CD 用 JASCO J-1700；PLQY 用荧光光谱仪配积分球（465 nm 激发、积分法）；磁性与变温用 SQUID（MPMS3）配合。
为什么选择本型号？Eu³⁺ 的 f–f 发射是线宽不到 10 nm 的窄线，⁵D₀→⁷F₁ 的磁子能级要靠 0.025 nm 波长分辨率才分得开；固体压片直接用标配支架，珀尔帖变温与永磁体磁场附件可叠加，同一光路里完成变温、变场 CPL。
适用型号：CPL-300（本型号）
06 动态多模态信息加密与防伪
Dynamic multimodal information encryption combining programmable structural coloration and switchable circularly polarized luminescence
实验配置CPL 用 CPL-300；CD 用 JASCO J-1500；反射谱用光纤光谱仪；Raman 用共聚焦拉曼光谱仪；形貌与结构色用共聚焦显微镜。
为什么选择本型号？加密样品要在同一台机上把 CPL 与亮度对应起来，AC（CPL）与 DC（荧光）同步采集可避免两次装样造成的位移与漂移——多模态密钥的可靠性靠的就是这种同点同次对应。
适用型号：CPL-300（本型号）
07 聚集诱导发光（AIE）固态 CPL
Unlocking intrinsically chiral bipyrenyl-based aggregation-induced emission luminogens
实验配置KBr 压片法制备固态样品；内置氙灯激发，激发波长 340 nm，Ex/Em 狭缝均为 3000 μm，扫描 500 nm/min，响应时间 1.0 s，standard 灵敏度，至少 8 次累加；每测一个角度旋转样品以排除手性伪影。
为什么选择本型号？AIE 固态样品散射强、透过低，必须开大狭缝保通量，再用多次累加换信噪比——CPL-300 在大狭缝下仍能给出可重复的 glum，靠的是双棱镜结构把杂散光压在 0.001% 以内；狭缝软件连续可调（1–4000 μm）让这类宽狭缝加多累加的测法可复现。
适用型号：CPL-300（本型号）
08 手性金属纳米簇 CPL
Construction of an Au12Cd2 nanocluster with circularly polarized luminescence
实验配置CPL 用 JASCO CPL-300；CD 用圆二色光谱仪；PLQY 与寿命用荧光光谱仪（相对光密度 0.1）；单晶结构用单晶衍射仪（Cu Kα，λ=1.54186 Å）。
为什么选择本型号？纳米簇发光弱、Stokes 位移小，激发与发射波长靠得近，激发光拖尾最容易污染 CPL；双棱镜双单色仪的低杂散光是这类弱信号、小位移样品能测出 glum 的必要条件。
适用型号：CPL-300（本型号）
含双棱镜单色仪光路、PEM 调制原理与四类样品形态的配置说明。
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