圆偏振发光（CPL）测量的是手性分子被非偏振光激发后，所发射的左旋与右旋圆偏振光之间的强度差，为旋光色散（ORD）、圆二色性（CD）、振动圆二色（VCD）和拉曼光学活性（ROA）等手性技术提供互补信息。JASCO CPL-300 是专为极弱 CPL 信号设计的高灵敏度圆偏光发光光谱仪：激发（Ex）与发射（Em）各配一套石英棱镜单色仪，以极低杂散光解析微弱信号；光弹性调制器（PEM）+ 锁相放大器在强噪声背景下检出左右旋发射强度的微小差异；独特的 180° 线性光学系统提供纯净的非偏振激发光，从根源上抑制荧光各向异性带来的伪信号。
CPL-300 一次扫描即可同步输出 CPL（AC 分量）与荧光强度（DC 分量，V）并换算为不对称发光因子 glum，主机在恒定增益下采集两组数据，确保两者可直接对应。除传统的溶液样品外，CPL-300 还可测量 KBr 压片、PMMA 薄膜、单晶等固体样品，并支持珀尔帖变温（20 – 50℃）与永磁体磁场下的磁圆偏振电致发光（MCP-OLED）测量，为新型圆偏振发光材料与器件研究提供完整表征手段。
Ex / Em 各一套石英棱镜单色仪，消除高次谐波，杂散光 ≤ 0.001%，保障极弱 CPL 信号解析
光弹性调制器（PEM）圆偏振调制配合锁相放大器，在噪声中检出左右旋发射强度差
CPL 分辨率 0.00001 mdeg，波长分辨率 0.025 nm，可分辨极微小的发光不对称性
180° 线性光学设计提供纯净非偏振激发光，消除荧光各向异性伪信号，结果更接近本征手性
溶液、KBr 压片 / PMMA 薄膜 / 单晶等固体，并可扩展珀尔帖变温与永磁体磁场测量
单次扫描同时给出 CPL（AC）、荧光强度（DC，V）与 glum，恒定增益下两组数据一一对应
CPL 信号本身极弱，对光谱仪的信噪比与基线稳定性要求极高。下图给出樟脑（camphor）/ 乙醇溶液在 CPL-300 上未作任何数据平滑直接测得的 CPL 光谱，同时给出荧光强度（DC）与不对称发光因子 glum，三条曲线在一次扫描中同步获得。
图 1 樟脑 / 乙醇溶液的 CPL 光谱（无数据平滑）
上图 CPL（黑 / 红为左右旋分量，mdeg）；中图荧光强度（DC 分量，V）；下图不对称发光因子 glum。样品：樟脑 / 乙醇溶液；实验条件：CPL-300，数据间隔 0.2 nm，单次扫描约 4 分钟、累计测量时间约 24 分钟，未作数据平滑。来源：JASCO CPL-300 应用资料（Application Note）。
液态与固态分子的手性性质可能差异很大，而当今先进发光器件多基于固态圆偏振发光分子，因此固体样品的 CPL 测量尤为关键。CPL-300 的 180° 线性光学设计提供纯净非偏振激发光，消除荧光各向异性伪信号，可直接测量 KBr 压片与 PMMA 薄膜等易制备样品。
图 2 Eu(facam)₃ / KBr 压片的 CPL 与荧光光谱
（B）Eu(facam)₃ / KBr 压片在 0°（绿）、45°（蓝）、90°（红）三个旋转角下的 CPL（上图）与荧光（下图）光谱；（C）同一压片（绿，左纵轴）与 DMSO 溶液（蓝，右纵轴）的 glum、CPL 与荧光光谱对照。样品：Eu(facam)₃ / KBr 压片，采用 JKBR-469 粉末压片支架；实验条件：室温，发射波长范围 560 – 660 nm。来源：Y. Kondo, S. Suzuki, M. Watanabe, A. Kaneta, P. Albertini, K. Nagamori et al., Front. Chem., 8 (527), 1 (2020)。
评估 CPL 特性的温度依赖性，往往能揭示发光材料的构型变化与手性传递机制。CPL-300 可配用 PTC-510 珀尔帖恒温样品池支架，在 20 – 50℃ 范围内对溶液与压片样品进行连续变温 CPL 测量。
图 3 Eu(facam)₃ 的变温 CD / CPL 与不对称发光因子
（A）CPL-300 样品室与 PTC-510 珀尔帖恒温样品池支架；（B）（C）DMSO 溶液与 KBr 压片的 CD / 吸收光谱；（D）（E）DMSO 溶液与 KBr 压片的 CPL / 荧光光谱（箭头示 20 → 50℃）；（F）596 nm 处 glum 随温度的变化。样品：Eu(facam)₃ 的 DMSO 溶液与 KBr 压片；实验条件：PTC-510 珀尔帖恒温，20 / 25 / 30 / 35 / 40 / 45 / 50℃。来源：JASCO CPL-300 应用资料；参考文献 Y. Okazaki, T. Goto, R. Sakaguchi, Y. Kuwahara, M. Takafuji, R. Oda, H. Ihara, Chem. Lett., 45 (4), 448 (2016)。
近年来圆偏振有机发光二极管（CP-OLED）发展迅速。通过在含光学非活性铱（III）发光体的器件上施加磁场，可诱导出磁圆偏振 OLED（MCP-OLED）。研究者使用 CPL-300 + 小型永磁体 + 器件专用样品支架，成功实现了红 – 绿 – 蓝 – 黄（RGBY）全彩器件的磁圆极化电致发光（MCPEL）与磁电致发光光谱（MEL）测量。
图 4 MCP-OLED 全彩（RGBY）器件的磁圆极化电致发光
（A）测量示意：器件置于 N / S 极永磁体之间；（B）–（E）R–Ir(piq)₃、G–Ir(ppy)₃、B–Ir(F₂-ppy)₂(pic)、Y–Ir(BT)₂(acac) 器件分别在 N 极向上（绿线）与 S 极向上（蓝线）磁场下的 MCPEL（上图，10⁴ΔI =(IL−IR)/T，单位 T⁻¹）与 MEL（下图，I = ½(IL+IR)）。实验条件：几何磁场下测量，磁场强度约 1.7 T；数据由日本近畿大学理工学部应用化学系 Yoshitane Imai 教授课题组提供。来源：M. Kitahara, K. Hara, S. Suzuki, H. Iwasaki, S. Yagi, Y. Imai, Organic Electronics, 119, 106814 (2023)。
| 型号 | JASCO CPL-300 圆偏光发光光谱仪 | 光源 | 150 W 无臭氧空冷 Xe 灯（可选 150 W 空冷 HgXe 灯 / LED / 激光器） |
| 检测器 | 侧窗型光电倍增管 PMT；可选铟镓砷（InGaAs）检测器 | 调制器 / 电子系统 | 光弹性调制器（PEM）｜ 锁相放大器 |
| 单色仪 | 激发（Ex）与发射（Em）双棱镜单色仪 | 测量波长范围 | 250 – 850 nm；400 – 1600 nm（选配 InGaAs 检测器） |
| 波长精度 | ±0.2 nm（250–500 nm）｜±0.5 nm（500–800 nm）｜±1.5 nm（800–1600 nm） | 波长重复性 | ±0.05 nm（250–500 nm）｜±0.1 nm（500–800 nm）｜±0.5 nm（800–1600 nm） |
| 狭缝宽度 | 1 – 4000 μm（软件自动调节） | 数字积分时间（D.I.T.） | 0.1 ms – 30 s |
| 扫描模式 | 连续扫描 / 步进扫描 / 自动响应（D.I.T.）扫描 | 扫描速度 | 最高 10000 nm/min |
| 光学模式 | CD（AC 分量 = CPL）｜DC（DC 分量 = 荧光）｜HT（PMT 高压）｜AC/DC | CPL 分辨率 | 0.00001 mdeg |
| 波长分辨率 | 0.025 nm | 杂散光 | 0.001% 或更低 |
| 外部输入端口 | 2 通道（输入范围 −1 ~ +1 V DC） | 汞灯 / 快门 | 内置汞灯用于仪器校验 ｜ 快门位于 Ex 与 Em 单色仪上 |
| 样品室尺寸 | 150 (W) × 310 (D) × 165 (H) mm | 整机尺寸 / 重量 | 2000 (W) × 700 (D) × 1000 (H) mm ｜ 约 180 kg |
| 电源 | 100 – 240 V，50 / 60 Hz，430 VA | 控制软件 | JASCO Spectra Manager™ |
| 主要附件 | KBr 压片 / 薄膜固体样品支架（JKBR-469）、珀尔帖恒温样品池支架（PTC-510） | 扩展能力 | 可选 InGaAs 检测器（近红外）、磁场测量专用样品支架与小型永磁体 |
每条附对应方向公开文献与 DOI，可点开核对。
01可加工 CPL 材料与柔性 3D 显示
Processable circularly polarized luminescence material enables flexible stereoscopic 3D imaging
实验配置CPL 与 CD 分别在 JASCO CPL-300 与 J-1500 上测量；样品为可打印的 CPL 聚合物薄膜（CPL-PP），左右手性材料分别打印到同一像素单元的左右两半；反射与荧光谱分别用 UV-vis-NIR 分光光度计与荧光分光光度计；形貌用偏光显微镜。
为什么选这一型号？薄膜是固态、单层发光弱，左右旋差值只有荧光强度的千分之几——需要双棱镜发射单色仪把杂散光压到 0.001% 以下，否则激发光拖尾直接盖住 CPL 信号；AC/DC 同步输出让 glum 与荧光强度在同一次扫描里一一对应，不用两次测量再做归一。
适用型号：CPL-300（本型号）
02超分子组装的手性放大
Double helical π-aggregate nanoarchitectonics for amplified circularly polarized luminescence
实验配置0.1 mm 光程石英比色皿，悬浮液直接滴样；CPL 用 CPL-300（部分样品用 CPL-200 对照）；测前翻转样品并改变入射角，排除线双折射（LB）造成的伪信号。
为什么选这一型号？悬浮液存在宏观各向异性，LB 会在普通装置上伪造出 CPL；180° 线性光学系统的纯净非偏振激发从源头抑制荧光各向异性伪信号，这是这里给出的 glum 能被审稿人接受的前提。
适用型号：CPL-300（本型号）
03单发射全色 CPL 与白光照明
Helical-caging enables single-emitted large asymmetric full-color circularly polarized luminescence
实验配置CD 与 CPL 分别用 JASCO J-1500 与 CPL-300；绝对 PLQY 用积分球（365 nm 激发、石英比色皿）；PXRD 用粉末衍射仪（Cu Kα，20°–70°）；形貌用偏光显微镜。
为什么选这一型号？全色发光横跨 400–700 nm，发射单色仪要在整个可见区保持低杂散光——蓝端激发光一旦串到红端，红光区的 glum 就不可信；0.025 nm 波长分辨率也保证窄发射峰不被仪器函数展宽。
适用型号：CPL-300（本型号）
04无铅金属卤化物 CPL
Stepwise amplification of circularly polarized luminescence in indium-based metal halides
实验配置CPL 用 JASCO CPL-300；CD 用圆二色光谱仪（100 nm/min、1 nm 数据间隔）；TGA（N₂ 100 mL/min）、FT-IR（KBr 压片）、飞秒瞬态吸收配套表征。
为什么选这一型号？这类无铅卤化物的 glum 在 10⁻³ 量级、发光峰又宽，信号很容易埋在基线起伏里；0.00001 mdeg 的 CPL 分辨率决定了能否把真实不对称性从噪声中分出来，而不是靠平滑把峰做出来。
适用型号：CPL-300（本型号）
05稀土卤化物与磁场调控 CPL
Chiral europium halides with high-performance magnetic field tunable red circularly polarized luminescence
实验配置样品与 KBr 粉混合压片；扫描速度 500 nm/min、数据间隔 0.5 nm、D.I.T 1 s；CD 用 JASCO J-1700；PLQY 用荧光光谱仪配积分球（465 nm 激发、积分法）；磁性与变温用 SQUID（MPMS3）配合。
为什么选这一型号？Eu³⁺ 的 f–f 发射是线宽不到 10 nm 的窄线，⁵D₀→⁷F₁ 的磁子能级要靠 0.025 nm 波长分辨率才分得开；固体压片直接用标配支架，珀尔帖变温与永磁体磁场附件可叠加，同一光路里完成变温、变场 CPL。
适用型号：CPL-300（本型号）
06动态多模态信息加密与防伪
Dynamic multimodal information encryption combining programmable structural coloration and switchable circularly polarized luminescence
实验配置CPL 用 CPL-300；CD 用 JASCO J-1500；反射谱用光纤光谱仪；Raman 用共聚焦拉曼光谱仪；形貌与结构色用共聚焦显微镜。
为什么选这一型号？加密样品要在同一台机上把 CPL 与亮度对应起来，AC（CPL）与 DC（荧光）同步采集可避免两次装样造成的位移与漂移——多模态密钥的可靠性靠的就是这种同点同次对应。
适用型号：CPL-300（本型号）
07聚集诱导发光（AIE）固态 CPL
Unlocking intrinsically chiral bipyrenyl-based aggregation-induced emission luminogens
实验配置KBr 压片法制备固态样品；内置氙灯激发，激发波长 340 nm，Ex/Em 狭缝均为 3000 μm，扫描 500 nm/min，响应时间 1.0 s，standard 灵敏度，至少 8 次累加；每测一个角度旋转样品以排除手性伪影。
为什么选这一型号？AIE 固态样品散射强、透过低，必须开大狭缝保通量，再用多次累加换信噪比——CPL-300 在大狭缝下仍能给出可重复的 glum，靠的是双棱镜结构把杂散光压在 0.001% 以内；狭缝软件连续可调（1–4000 μm）让这类宽狭缝加多累加的测法可复现。
适用型号：CPL-300（本型号）
08手性金属纳米簇 CPL
Construction of an Au12Cd2 nanocluster with circularly polarized luminescence
实验配置CPL 用 JASCO CPL-300；CD 用圆二色光谱仪；PLQY 与寿命用荧光光谱仪（相对光密度 0.1）；单晶结构用单晶衍射仪（Cu Kα，λ=1.54186 Å）。
为什么选这一型号？纳米簇发光弱、Stokes 位移小，激发与发射波长靠得近，激发光拖尾最容易污染 CPL；双棱镜双单色仪的低杂散光是这类弱信号、小位移样品能测出 glum 的必要条件。
适用型号：CPL-300（本型号）
含双棱镜单色仪光路、PEM 调制原理与四类样品形态的配置说明。
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CD 测基态吸收的手性，CPL 测激发态发射的手性。同一分子可以 CD 很强而 CPL 很弱，两者没有定量关系。做发光材料必须实测 CPL，不能用 CD 推测。
液体样品用标准比色皿，几百微升即可；固体需要压片或薄膜，配专用支架。浓度以荧光信号强度为准，太稀信噪比不够，太浓会有自吸收。
普通有机分子 10⁻⁴–10⁻³，聚集体 10⁻³–10⁻²，手性稀土配合物可达 10⁻¹。但 g 值是比值，必须同时报量子产率，否则没有参考意义。
能。配 PTC-510 珀尔帖支架做 20–50℃ 变温；配 MCPL 附件（约 1.6T 永磁体）做磁圆偏振发光。两项都是选配，下单时要一并确认。
可以，但要压片或用 KBr 稀释，并用专用固体支架固定角度。松散粉末散射太强会引入退偏，数据不可靠。
告诉我们样品类型、波段范围和已有设备配置，我们给出型号对照与整机方案，不做泛泛推荐。
